光焱科技將出席CIOE 2025中國國際光電博覽會｜深圳國際會展中心 9/10–9/12

時間：2025/9/10-9/12

地點：深圳國際會展中心

展位：6E50、6E51 (智能傳感展·六館)

第26屆中國國際光電博覽會 (CIOE 2025)

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Enlitech 出席第26屆中國國際光電博覽會 (CIOE 2025)

光焱科技 (Enlitech) 將于2025 年 9 月 10–12 日出席在深圳國際會展中心舉辦的第26屆中國國際光電博覽會 (CIOE 2025)。
作為備受全球矚目的光電與半導體產業盛會，CIOE 匯聚了來自世界各地的光電元件、半導體器件、光學檢測、智能傳感與 AIoT 應用相關專家與企業。

Enlitech 展示最新智能傳感與半導體光學檢測設備

在 CIOE 2025 的智能傳感展 (六館)，Enlitech 將展示前沿的半導體光學測試解決方案，幫助研究人員與工程師精準驗證光電傳感器、SPAD、CMOS 圖像傳感器的效能。

本次重點展品包括：

• SPD2200：商用級SPAD 單光子雪崩二極管效率整合型測試儀

• APD-QE：先進光傳感器量子效率光學儀

• SG-A：CMOS 圖像傳感器測試儀

這些設備能協助科研人員與產業工程師突破高速芯片、智能傳感器、光電應用的性能瓶頸。

誠摯邀請您蒞臨 Enlitech 展位 6E50 · 6E51

Enlitech 將由專業團隊于現場解說光學測試與智能傳感的應用價值，誠摯邀請您前往6E50、6E51 展位，與我們交流半導體光學測試的未來趨勢！