激光掃描缺陷成像儀是激光束感應(yīng)電流（LBIC）測(cè)試的升級(jí)版本。它利用波長(zhǎng)能量大于半導(dǎo)體帶隙的激光束照射半導(dǎo)體，產(chǎn)生電子空穴對(duì)。通過(guò)快速掃描樣品表面，獲得揭示內(nèi)部電流變化的圖像分布，從而分析各種缺陷分布。這有助于分析樣品制備的質(zhì)量并有助于工藝改進(jìn)。

光焱科技 QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于高效太陽(yáng)能電池研發(fā)。QE-RX 不僅可以測(cè)量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 數(shù)據(jù)，還可以通過(guò)結(jié)合分析軟件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 損失。光焱在 QE-RX 內(nèi)整合了三種不同的測(cè)試功能，并開發(fā)了 SQ-JVFLA 軟件，幫助用戶通過(guò)使用 Shockley-Queisser 熱極限理論分析三種不同的損失。

LQ-50X-EL 光焱科技電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng) 擁有以下幾點(diǎn)特色：采用單光子偵測(cè)技術(shù)、NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計(jì)與組件、簡(jiǎn)便的設(shè)計(jì)可與手套箱直接整合，能解決目前LED發(fā)展所面臨的挑戰(zhàn)。

傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測(cè)器面臨許多測(cè)試方法挑戰(zhàn)。光焱科技針對(duì)新世代的光電探測(cè)器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應(yīng)測(cè)試與光電傳感器特性分析。

PD-RS光電器件響應(yīng)測(cè)量與光偵測(cè)器可針對(duì)光電器件 (探測(cè)器或光伏器件) 進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換過(guò)程的響應(yīng)行為測(cè)量與分析。

光電流、開路電壓的瞬態(tài)特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程等是新型太陽(yáng)電池器件的重要參數(shù)。由于新型太陽(yáng)電池器件面積小、光電流小，非常難以準(zhǔn)確測(cè)量出光電流隨時(shí)間的變化，鈣鈦礦太陽(yáng)能電池瞬態(tài)光電流光電壓測(cè)試儀可對(duì)有機(jī)太陽(yáng)能電池OPV、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池PSC、量子點(diǎn)太陽(yáng)能電池、染料敏化太陽(yáng)能電池DSSC、無(wú)機(jī)太陽(yáng)能電池等光電器件進(jìn)行微觀機(jī)理測(cè)試，進(jìn)而全面分析光電器件中的載流子特性