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新型單光子偵測器特性分析設備

簡要描述：單光子探測器可以對單個光子進行探測和計數，在許多可獲得的信號強度僅為幾個光子能量級的新興套用中，單光子探測器可以一展身手。SPD2200是針對新型的單光子偵測器（SPD, Single Photon Detector），如應用於dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector）光感測器，的特性測試分析設備。

產品型號：SPD2200
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-03-27
訪問量： 5895

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產品分類

Product Category

詳細介紹

品牌	Enlitech	價格區間	面議
應用領域	電子/電池,汽車及零部件	暗計數(Dark?Count?Rate)	DCR
產地類別	進口	測量模式	咨詢光焱科技專家

特色

SPD2200具備全光譜性能測試包含：

*全光譜光譜回應（SR， Spectral Responsivity）

*全光譜量子效率（EQE， External Quantum Efficiency）

*全光譜光子探測率（PDP， Photon Detection Probability）

*暗計數DCR （Dark Count Rate）

*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有*進光學與電學系統，搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經驗，提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節省系統搭設的時間成本，並降低測試結果的不確定性。加快產品的開發週期，提升產品的競爭力。

實證

*SPAD的暗計數與偏壓關係圖

新型單光子偵測器特性分析設備

*SPAD暗計數與崩潰電壓

新型單光子偵測器特性分析設備

*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜

新型單光子偵測器特性分析設備

*SPAD的Jitter測量

新型單光子偵測器特性分析設備

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